名称：电子探针显微分析仪

型号：JXA-8230

品牌：日本JEOL公司

安装时间： 2018-5

设备简介

    电子探针是材料微区分析领域的专业设备，可实现微米数量级的微区定量分析；可实现痕量元素的高灵敏度分析，特别是超轻元素B、C、N、O、S和P的分析；可实现痕量元素元素的线、面分布分析；可实现化学价态分析（精细结构分析）。分析时样品制备方便，不损耗原始样品；把分析成分与显微组织观察有机的结合起来；分析的灵敏度达到10^-4～10^-6g，而绝对量可达到10^-15～10^-18g；分析区域可小到微米级，能提供元素微观尺度的成分的不均匀信息。目前公司主要将该仪器用于各型海洋地质材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定；地球物理分析；海洋化学分析与环境评价、海洋生物生态调查、海洋工程检测、地质矿物、高分子、生物等分析；进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在分析样品表面做元素的面、线、点分布分析等，是微米数量级的定量分析表征的必备分析手段。

主要技术参数

1. 二次电子像分辨率：≤6nm；

2. 背散射电子像分辨率：≤20nm（拓扑像、成分像）, 成分分辨足以清晰分辨a / b黄铜；

3. 图像放大倍数：×40～×300,000，连续可调；

4. 电子像的歧变：＜3% (＞400倍放大率), ＜5% (＜400倍放大率)；

5. 电子束位移：小于1 μm/h；

6. 分析元素：⁵B - ⁹²U；

7. 分析精度：好于1%(主元素, 含量＞5%)和5%(次要元素, 含量～1%)；

8. 光学显微镜系统类型：具有透、反光显微镜，透光模式带正交偏光；

9. 光学分辨率：≤1μm；

10. 光学放大倍率：300倍。