名称：X射线粉末衍射仪

型号：Ultima IV

品牌：日本理学（RIGAKU）

安装时间： 2016-9

设备负责人：张媛媛

设备简介

   X-射线多晶粉末衍射仪是集粉末衍射、应力和极图分析、小角散射、薄膜分析等为一体的旗舰级X射线分析设备，可以进行材料的物相鉴定及定量分析；原子排列与占位分析；纳米材料的晶粒度和颗粒度测定；应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等，是研究材料原子尺度结构不可或缺、起决定性作用的设备。

主要技术参数

1. X射线发生器功率为3KW

2. 测角仪为水平测角仪

3. 测角仪最小步进为1/10000度

4. 测角仪配程序式可变狭缝

5. 高反射效率的石墨单色器

6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）

7. 小角散射测试组件

8. 多用途薄膜测试组件

9. 微区测试组件

10. In-Plane测试组件（理学独有）

11. 高速探测器D/teX-Ultra

12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC

13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等